《表3 使用2个控制点的MRTK高程测量合格率》

《表3 使用2个控制点的MRTK高程测量合格率》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《MRTK轨道测量技术与精度分析》


  1. 获取 高清版本忘记账户?点击这里登录
  1. 下载图表忘记账户?点击这里登录

采用相同的测量方法,在原始测量数据中引入2个约束控制点的位置坐标,然后进行处理计算。通过数据计算处理,从图5、图6及表3可看出MRTK测量合格率得到了有效提升。