《表1 NBTO-x陶瓷样品的晶胞参数》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《W~(6+)掺杂对Na_(0.5)Bi_(2.5)Ta_2O_9陶瓷的结构与电学性能影响》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

为了进一步研究W6+掺杂对晶体结构的影响，利用GSAS软件对其XRD进行Rietveld精修拟合，空间群为正交相的A21am。图2为室温下NBTO （x=0.00）和NBTO （x=0.03）样品的精修图谱，从图中可以看出XRD衍射图谱得到了较好的拟合。NBTO （x=0.00）样品的精修参数分别为：Rwp=8.61%、Rp=6.41%和chi2=2.756；NBTO（x=0.03）样品的精修参数分别为：Rwp=7.52%、Rp=5.87%和chi2=2.162。表1为各组分样品的精修晶胞参数。对于正交结构，a/b可以在一定程度上表示结构的畸变程度[19]，较小的a/b值反映了较小的正交畸变。由表可知：a/b值随着x的增加先减小后增大，材料的正交畸变程度先降低后升高。这是由于W6+（0.062 nm）半径小于Ta5+（0.069 nm）半径，当掺杂量0