《表1 异步识别结果：X射线荧光光谱法测定锰硅合金中各组分含量》

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《X射线荧光光谱法测定锰硅合金中各组分含量》

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仪器及测量条件。MXF-2400X荧光光谱仪（日本岛津）。X射线管管压40 k V，管流70 m A。其他条件见表1。试剂：Li2CO3、Li2B4O7、NH4I、Ba O2、Co2O3均为分析纯。标准样品物质见表2。