《表2 各组分的含量范围：高压覆膜制样-X射线荧光光谱法测定多金属矿中的多种元素》
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《高压覆膜制样-X射线荧光光谱法测定多金属矿中的多种元素》
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采用15个标准物质建立校准曲线。测定Cu、Pb、Zn、Mn、As、Sb、Ag、Sn、Bi、Mo、Cd、S、Fe、SiO2、Al2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O等19个组分，各组分的含量范围见表2。
| 图表编号 | XD00139057500 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2020.04.15 |
| 作者 | 李小莉、薄玮、徐进力、潘宴山、张勤 |
| 绘制单位 | 中国地质科学研究院地球物理地球化学勘查研究所国土资源部地球化学探测技术重点实验室、中国地质科学研究院地球物理地球化学勘查研究所国土资源部地球化学探测技术重点实验室、中国地质科学研究院地球物理地球化学勘查研究所国土资源部地球化学探测技术重点实验室、中国地质科学研究院地球物理地球化学勘查研究所国土资源部地球化学探测技术重点实验室、中国地质科学研究院地球物理地球化学勘查研究所国土资源部地球化学探测技术重点实验室 |
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