《表3 方法的检出限：熔融制样-X射线荧光光谱法测定金红石中主次组分》

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《熔融制样-X射线荧光光谱法测定金红石中主次组分》

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μg/g

采用10个金红石校准样品S01～S10制备熔融片，选用这10个校准样品中含量最低的组分，各重复测定10次并计算标准偏差（SD），以其3倍标准偏差的平均值计算得到各组分的方法检出限（LD），结果见表3。用这种方法计算得到的方法检出限，考虑了样品制备、仪器和计数统计所带来的误差，因而更具有实用意义。