《表2 各组分检出限:熔融制样-波长色散X射线荧光光谱法同时测定超基性岩中主、次及微量成分》
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《熔融制样-波长色散X射线荧光光谱法同时测定超基性岩中主、次及微量成分》
按照式(2)计算得出各元素的检出限,计算检出限的背景强度为实际测量结果,背景测量时间与峰位测量时间一致(见表1),结果见表2。
图表编号 | XD0018833000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.12.15 |
作者 | 郑瑞娟、钟坚海、张艳燕、张奇勋、陈权、温建荣、张冬、叶华欣 |
绘制单位 | 龙岩学院化学与材料学院、龙岩出入境检验检疫局、龙岩出入境检验检疫局、龙岩出入境检验检疫局、龙岩出入境检验检疫局、龙岩出入境检验检疫局、龙岩学院化学与材料学院、龙岩出入境检验检疫局 |
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