《表6 方法准确度：高压覆膜制样-X射线荧光光谱法测定多金属矿中的多种元素》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《高压覆膜制样-X射线荧光光谱法测定多金属矿中的多种元素》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

/%

Rh Kα的瑞利散射线作内标测定Cu、Pb、Zn、As和Rh Kα的康普顿散射线作内标[1-2，7-8，9-10]测定Sb、Ag、Sn、Bi、Mo及经验系数法校正基体效应[7-8，9-10]。表6给出了X射线荧光光谱法测定值与标准值的比较，其中X射线荧光光谱可准确测定其中的Cu、Pb、Zn、Mn、As、Sb、Ag、Sn、Bi、Mo，可同时分析其中的Cd、S、Fe、SiO2、Al2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O等电成分。