《表1 SET轰击结点Tab.1 Nodes with SET strike》
文中VCO环路中各个延时单元完全相同,遍历结点轰击仿真只需通过对其中单个延时单元的电路结点进行遍历即可。针对文中的延时单元,其主要轰击结点如表1所示,每个延时单元包含三个信号结点和两个控制结点。由于文中所研究的某些电路结点同时与P型MOS管和N型MOS管的漏极连接,因此,当P型MOS管遭受轰击时,该结点可能发生电流注入,产生正向的电压波动,而当N型MOS管遭受轰击时,该结点可能发生电流输出,产生负向电压波动,本文对这两种状况都进行了模拟。
图表编号 | XD0020124900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.04.28 |
作者 | 韦援丰、杨海钢、李天文 |
绘制单位 | 中国科学院电子学研究所、中国科学院大学、中国科学院电子学研究所、中国科学院大学、中国科学院电子学研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |