《表3 老化测试工序的合格率》

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《针对COC老化测试的优化改进》

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表3中CH1、CH2、CH3和CH4分别代表波长为1 270 nm、1 290 nm、1 310 nm和1 330 nm的芯片，COC代表是4个波长芯片组装在钨铜后的组件。单通道老化与四通道老化主要差异在工艺流程的不同及夹具的不同。两种老化方式对比不难看出单通道老化比较符合现阶段的生产需求。