《表4 XGS223/175牌号不同尺寸磁体质子辐照结果》

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《稀土永磁材料的抗辐照性能研究》

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表3～5是质子辐照试验的结果。如表3所示，SmCo材料选取的三个牌号在质子辐照后磁通变化都很小（磁通变化率小于0.5%）。辐照前后的磁通变化率有正有负，是磁通测量误差和测量前后环境温度对磁体性能影响导致的。从表4的测量结果可以看出XGS223/175牌号的3种尺寸样品在辐照后都未发生明显变化，并且在磁体工作点很低的情况下（?10×0.5尺寸），磁体磁通的变化也很小。