《表2 元素的分析谱线、背景校正及浓度Table 2 Spectral lines、background correction and concentration》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《偏硼酸锂碱熔-电感耦合等离子体发射光谱法测定透辉石中的SiO_2、CaO、MgO、Al_2O_3、Fe_2O_3》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

ICP-AES分析谱线选择要综合考虑元素的检出限、基体干扰和背景干扰.ICP-AES法基体效应比较小，但干扰仍然存在.保持试液和标准溶液基体相同是消除基体干扰的有效方法之一[17].利用标准物质制备与试样基本相匹配的标准溶液系列，可消除基体效应的影响.而元素分析谱线的选择，以谱线相对强度高不受或少受干扰为原则.按仪器软件谱线库中列出的待测元素谱线强度及存在的干扰线，对待测元素谱线进行筛选，使用标准溶液进行光谱扫描和对比，测量时用i TEVA分析软件进行自动背景校正.透辉石样品岩性特殊，主成分含量变化较大，Ca O、Mg O含量很高，而Al2O3、Fe2O3等杂质元素含量较低.测定低含量元素时应选择灵敏线，如测定Al2O3、Fe2O3分别选择了灵敏线308.215、259.940 nm.测定元素含量高但灵敏度低的非金属元素时也应选择灵敏线，如测定Si O2选择了灵敏线251.611 nm.测定元素含量高且灵敏度高的元素应选择次灵敏线，因为选择灵敏线容易产生过饱和，影响测定.如测定Ca O、Mg O分别选择了422.673、285.213 nm.本方法最终选择的谱线、背景校正位置和浓度如表2所列.