《表3 主要元素谱线校正及系数》

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《熔融制样-X射线荧光光谱法测定除尘灰中10种组分》

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式中：wi为样品中待测组分i的认定值或未知样品中待测组分i基体校正后的含量值；Ii为待测元素的X射线荧光净强度或内标比强度；a、b、c、d为校准曲线系数；Ki、Ci为常数；Aij为基体校正系数；Bij为谱线重叠干扰校正系数；Fj为共存组分的分析值或X射线强度。表3列出了吸收增强和重叠校正信息。