《表4 基体校正及谱线重叠校正》
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《熔融制样-X射线荧光光谱法测定钨钼锡矿中的主次成分》
待测元素基体校正及谱线重叠干扰校正元素见表4。
图表编号 | XD00139053800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.02.15 |
作者 | 刘恒杰、贾海峰、谭清月 |
绘制单位 | 中南冶金地质研究所、中南冶金地质研究所、中南冶金地质研究所 |
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