《表1 PT实际值及测量值》

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《面向微处理器核的片上老化检测模块设计》

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为了验证方法的有效性，在ISCAS基准电路及OR1200核上进行实验。通过PT（prime time）进行静态时序分析，静态时序分析能够准确地得到电路的实际的时间裕量，通过与测量值进行比较，可评估本方法的有效性。具体实验结果如表1所示。