《表2 不同积分时间下，α稳定分布的拟合参数》

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《基于CCD的γ射线照相中辐射噪声的统计特性分析》

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表2汇总了不同积分时间下，α稳定分布的拟合参数值。由表2可知，随积分时间的增加，特征指数α有减小的趋势，α越小意味着辐射噪声强度分布的拖尾越厚，厚拖尾是次级电子与像素单元多次随机作用叠加的结果；尺度参数c和位置参数ε随积分时间的变化规律相同，均为随积分时间的增大先变小后变大。先变小的原因是：1）在3.1节的阈值选取过程中对低强度的辐射噪声进行了截断处理；2）邻近辐射噪声强度接近时被当作了“单一”辐射噪声进行统计。后变大的原因是辐射噪声的叠加效应开始凸显。从表2还可看出，当γ射线注量较低，即辐射噪声的占空比小于5%时，α，c，ε的变化均不大。该结果表明，γ射线注量较低时，用α稳定分布模型描述基于CCD的γ射线照相中的辐射噪声是可行的。