《表1 陶瓷衬底校准标准件TE和TM表面波模式下不同厚度基底下的临界频率(εr=9.9)》

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《在片校准标准件基底边界条件影响》

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Andrej Rumiantsev等研究人员针对陶瓷衬底的校准标准件，分别以金属卡盘和空气（将校准标准件悬挂在金属卡盘上方）为基底时的临界频率进行了计算评估，数据见表1。