《表2 失效样品微波参数测试结果》

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《宇航用进口低等级芯片制样评价结果判定研究》


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利用Agilent E8257D矢量网络分析仪对失效样品的微波参数进行测试,测试结果如表2所示。测试结果表明,失效样品的变频损耗为46.7 d B,严重超差。