《表3 失效样品极间直流电特性测试结果》

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《宇航用进口低等级芯片制样评价结果判定研究》

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利用QT2晶体管图示仪对失效样品的本振端（LO）、中频端（IF）、射频端（RF）和接地端（GND）这4个端口两两端口之间的直流电特性进行测试，并与合格样品的测试结果进行对比，测试结果如表3所示。