《表1 光学检漏、传统方法检漏结果比较》
国外某公司采用两台光学检漏仪对两种封装形式的晶体振荡器产品共7742只样本进行了测试试验,并与采用传统检漏方法(氦质谱细检、碳氟化合物粗检)的测试结果进行比对,发现仅有1只样品未通过氦质谱检漏。详见表1。
图表编号 | XD0016611400 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.07.20 |
作者 | 葛秋玲、肖汉武 |
绘制单位 | 无锡中微高科电子有限公司、无锡中微高科电子有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
国外某公司采用两台光学检漏仪对两种封装形式的晶体振荡器产品共7742只样本进行了测试试验,并与采用传统检漏方法(氦质谱细检、碳氟化合物粗检)的测试结果进行比对,发现仅有1只样品未通过氦质谱检漏。详见表1。
图表编号 | XD0016611400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.07.20 |
作者 | 葛秋玲、肖汉武 |
绘制单位 | 无锡中微高科电子有限公司、无锡中微高科电子有限公司 |
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