《表3 面积法标准与检测要求》

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《晶粒度测定标准比对分析》

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平均晶粒度测定的面积法是通过测定单位面积中晶粒个数获得样品的晶粒度级别数。其基本原理是用面积为A的测量网格和样品的晶粒组织重叠，统计测量网格内的晶粒个数N内和测量网格切割的晶粒个数N切割，计算测量网格面积内的晶粒个数N，计算测量网格单位面积内的晶粒个数NA，再计算出晶粒度级别数G和其它参数。在不同的标准中具体规定存在一定的差异，本文收集的面积法测定晶粒度的标准方法及检测基本要求见表3。从表3可以看出，不仅仅N值的计算公式不同，推荐的测量网格也存在差异。