《表4 δ=25情况下瓷砖的缺陷识别率》
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瓷砖在日常生产过程中,其采集装置大多应用于工厂环境内,因此对瓷砖图像进行获取时会不可避免地受到周围环境、光照以及噪声因素的干扰。对于不同类型的瓷砖表面缺陷,由于其表面粗糙程度不一,会造成图像采集时受其表面反光作用的影响,产生不同程度的曝光,进而影响瓷砖的性能。同时,瓷砖在传输过程中也会受到噪声因素的干扰,这在很大程度上影响了瓷砖处理的难度。因此,为了验证本文算法的有效性和可靠性,选择对瓷砖图像加入在实际生产过程中常见的不同等级的高斯噪声和不同程度的曝光率,并分析该算法在不同状态下对瓷砖被准确分类的大小,其结果如表2~表4所示。
图表编号 | XD00163042600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.08.01 |
作者 | 李军华、权小霞、汪宇玲 |
绘制单位 | 南昌航空大学江西省图像处理与模式识别重点实验室、南昌航空大学江西省图像处理与模式识别重点实验室、东华理工大学江西省放射性地学大数据技术工程实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |