《表1 冲击响应谱试验条件及验证结果》
共7台产品冲击试验发生问题,造成产品返工:将易损坏的电子元器件如钽电容、二极管、运算放大器、基准源等较大器件用硅橡胶GD414粘固,同时将印制电路板边缘和壳体之间用硅橡胶GD414连为一体,按表1序号1的试验条件重新试验,产品均通过了大冲击试验。产品测试结果正常。产品开盖后用放大倍数不低于30倍的三维光学显微镜检查所有元器件本体完好、无损;导线焊接牢固;紧固件无松动;焊点无裂纹。冲击响应谱试验条件及验证结果见表1。
图表编号 | XD00161344000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.04.25 |
作者 | 刘辉、田金野、施安琪、唐秀萍 |
绘制单位 | 北京遥测技术研究所、北京遥测技术研究所、北京遥测技术研究所、北京遥测技术研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |