《表1 NIST随机数测试程序测试结果》

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《基于FPGA的SDD探测器随机信号模拟发生器》


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注:*该项测试有多个结果,表中值是取多个结果中通过率最小的一组

能够产生均匀分布的随机数是本设计的关键,必须进行严格的检验。将产生的随机数序列通过USB上传到计算机中并采用美国国家标准与技术研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST)提供的随机数测试程序[11]对其进行统计性分析。NIST随机数测试原理是根据完全随机假设得出一个标准分布模型,用实际统计数据与标准分布模型做比较,来检验其随机性。本文对NIST的每种测试结果均进行了分析比较。将采集得到1 000 Mbits数据进行NIST随机性检验,数据被均分成1 000个样本,表1给出了NIST随机数测试程序的测试结果,根据NIST随机数程序应用手册[12]的描述,对于1 000个样本的随机序列检测,P-value大于0.000 1,Proportion大于980/1 000(Random Excursions和Random Excursions Variant的Proportion大于573/587)即通过随机性测试。本次测试的数据全部通过NIST各项随机性测试,表明随机数生成模块产生的数据性能良好。