《表1 级联系统随机数发生器生成的随机数NIST测试结果》
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《含三次项类Chen系统的级联及其随机数发生器设计》
为验证所得随机数能否满足实际应用的要求,采用由美国国家标准与技术研究院(national institute of standards technology,NIST)提出的NIST检验套件[17]。NIST检验套件由15项检验组成,用于衡量由基于硬件或软件的加密随机数或伪随机数发生器生成的(任意长的)二进制序列在特定方面的随机性能。将每项检验计算出的P值作为判断对零假设相关强度的依据。若P=1,则序列近似具完美的随机性;若P=0,则序列几乎完全是非随机的。最终将P值与先验的显著性水平(α=0.01)进行比较,若P≥α,则接受零假设,即序列是随机的;若P<α,则拒绝零假设,即序列是非随机的。表1为本文设计的随机数发生器产生长度为109随机数序列的NIST检验结果。
图表编号 | XD00193346300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.12.01 |
作者 | 袁泽世、臧飞 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第二十八研究所、中国电子科技集团公司第二十八研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |