《表4 遍历测试结果:DOE方法在ESD及LU测试故障定位方面的应用研究》
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《DOE方法在ESD及LU测试故障定位方面的应用研究》
通过表4可以看出,当I-V曲线设定电压大于等于9 V,且I-V曲线测试次数大于等于6次时,会造成Vout出现失效。
图表编号 | XD00155655500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.06.25 |
作者 | 鹿祥宾、陈燕宁、张海峰、原义栋、钟明琛、张志刚 |
绘制单位 | 北京智芯微电子科技有限公司国家电网公司重点实验室电力芯片设计分析实验室、北京智芯微电子科技有限公司北京市电力高可靠性集成电路设计工程技术研究中心、北京智芯微电子科技有限公司国家电网公司重点实验室电力芯片设计分析实验室、北京智芯微电子科技有限公司北京市电力高可靠性集成电路设计工程技术研究中心、北京智芯微电子科技有限公司国家电网公司重点实验室电力芯片设计分析实验室、北京智芯微电子科技有限公司北京市电力高可靠性集成电路设计工程技术研究中心、北京智芯微电子科技有限公司国家电网公司重点实验室电力芯片设计分析实验室、 |
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