《表1 测试问题汇总：DOE方法在ESD及LU测试故障定位方面的应用研究》

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《DOE方法在ESD及LU测试故障定位方面的应用研究》

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某模拟集成电路在进行ESD及LU测试完毕之后，在ATE（自动化测试）机台上进行FT(Final test）测试验证时，发现有三个测试项目（HBM，MM，LU）的芯片Vout管脚出现失效，Vout管脚正常电压为大于等于0.615 V，失效的芯片的Vout管脚低于0.615 V，超出规格范围要求。具体情况如表1所示。