《表1:热阻测试结果:大功率整流器件的热阻测试》
通过测试结果可以发现,被测芯片的热阻不是很理想,说明在器件的生产过程中,各层材料之间的接触热阻是难以避免的,而且接触热阻对总热阻影响很大。在这种情况下,大功率整流芯片工作时产生的热量如果不能及时散出去,会使结温升高至极限参数以外,造成器件热失效。
图表编号 | XD00151313500 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.05.15 |
作者 | 戴立新 |
绘制单位 | 黄山市七七七电子有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
通过测试结果可以发现,被测芯片的热阻不是很理想,说明在器件的生产过程中,各层材料之间的接触热阻是难以避免的,而且接触热阻对总热阻影响很大。在这种情况下,大功率整流芯片工作时产生的热量如果不能及时散出去,会使结温升高至极限参数以外,造成器件热失效。
图表编号 | XD00151313500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.05.15 |
作者 | 戴立新 |
绘制单位 | 黄山市七七七电子有限公司 |
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