《表4 不同磨削条件下所需的抛光去除量》
由于磨削过程为金刚石砂轮与硅片的机械摩擦过程,硅片表面产生机械损伤在所难免,而MEMS器件制作要求硅片表面超光滑、无损伤,因此磨削后的硅片要经过化学机械抛光过程,抛光去除量直接反映磨削硅片表面损伤层的大小。在表3中的3组磨削条件下磨削后,进行抛光,抛光去除量如表4所示。
图表编号 | XD0014937900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.07.20 |
作者 | 杨静、王雄龙、韩焕鹏、杨洪星、李明佳、张伟才 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
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