《表1 化合物TKX50、ATZO1和ATONa晶体中的部分键长比较》

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《三种联结方式对典型双四唑含能材料晶体结构和性能的影响》

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化合物TKX?50、ATZO?1和ATO?Na晶体中的部分键长值如表1所示。在TKX?50的分子中，四唑环内的C—N键长分别为0.1336 nm和0.1332 nm，N─N键长在0.1306～0.1351 nm之间，N─N键键长区别较大；在ATZO?1的分子中，四唑环内的两个C—N键长分别为0.134 nm和0.1342 nm，键长略长于TKX?50分子的C—N键；ATZO?1的分子内四唑环的N─N键长为0.1328～0.1336 nm，键长基本接近，说明其四唑环的离域程度更高，环的稳定性优于TKX?50；二者四唑环内的C—N键均短于正常C—单键的键长（0.1470 nm），且长于C=N双键的键长（0.1270 nm），说明四环内含有的C=N双键与环内氮的孤对电子产生p?π共轭，键长趋于平均化。TKX?50的分子中的N─O键键长分别为0.1317 nm和0.1408 nm；而ATZO?1分子中的两个N?O键的键长分别为0.1306和1.414 nm，长度差距大于TKX?50，说明TKX?50分子的对称性要高于ATZO?1分子。