《表3 不同试样陶瓷膜微孔内EDS数据》

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《石墨烯浓度对镁基陶瓷膜生长及耐蚀性的影响》

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分别在图5a2—图5d2的红色标示位置进行点扫描能谱分析，不同试样陶瓷膜微孔内和微孔外EDS分析结果如表3所示。随着石墨烯浓度的增加，陶瓷膜微孔内的C含量先增加后减小。试样G0陶瓷膜微孔内的C含量非常低，仅为3.71%，这是电解液中的锆盐所致。试样G4陶瓷膜微孔内的C含量最高，为21.24%。试样G5陶瓷膜微孔内的C含量稍有降低，为16.62%。这是因为电解液中的石墨烯经阴离子表面活性剂十二烷基硫酸钠处理后呈负电荷，进入微弧氧化陶瓷膜微孔中，而微孔在完成放电作用后会产生毛细作用，使更多石墨烯进入微孔。石墨烯由C元素组成，因此陶瓷膜微孔中的C含量增加。而从G0到G5，陶瓷膜微孔外的C含量缓慢增加，试样G0的陶瓷膜微孔外的C含量非常低，仅为2.49%，试样G5的陶瓷膜微孔外的C含量最高，为8.18%。这是因为少量石墨烯随着熔融态氧化物被附着在试样表面，凝固在微孔周围，随着石墨烯浓度增加，微孔外的C含量缓慢增加。