《表2 核磁法测得不同配位环境的铝/硅原子摩尔比例》

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《后处理法制备多级孔Y型分子筛及其加氢裂化性能研究》


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由图2(a)可以看出,化学位移为-112~-89 ppm范围内的5个信号峰依次归属为Si4Si(Si O2)、Si(0Al,4Si)、Si(1Al,3Si)、Si(2Al,2Si)、Si(3Al,1Si)的分子筛骨架单元结构[9-10]。经高斯分峰拟合后,所处不同化学环境硅原子所占相对比例及骨架硅铝摩尔比如表2所示。与脱铝前USY分子筛相比,试样DAY-1在化学位移为-112 ppm(Si O2)处的信号峰消失,说明非骨架硅在后处理制备过程中被完全脱除。DAY-2和DAY-3的谱图上均出现无定型SiO2信号峰且其所占比例略有增加,同时Si(1Si,3Al)信号峰消失,结合X射线衍射结果分析,这与柠檬酸骨架脱铝能力强导致部分骨架键的断裂有关。