《表4 试验设备明细表:基于高性能信息处理模块的相变散热技术研究》
针对相变储能模块散热性能测试试验,验证模块对芯片的控温和散热能力。试验平台主要由以下设备组成(表4)。
图表编号 | XD00133561800 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.02.01 |
作者 | 王苑瑾、张赛、刘兵、朱正鹏、杨文良 |
绘制单位 | 北京航天自动控制研究所、火箭军装备部驻北京地区第四军事代表室、北京航天自动控制研究所、北京航天自动控制研究所、北京航天自动控制研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
针对相变储能模块散热性能测试试验,验证模块对芯片的控温和散热能力。试验平台主要由以下设备组成(表4)。
图表编号 | XD00133561800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.02.01 |
作者 | 王苑瑾、张赛、刘兵、朱正鹏、杨文良 |
绘制单位 | 北京航天自动控制研究所、火箭军装备部驻北京地区第四军事代表室、北京航天自动控制研究所、北京航天自动控制研究所、北京航天自动控制研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |