《表1 X射线计算机断层扫描测试试验条件》

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本文所进行的X射线断层扫描分析采用天津三英精密仪器股份有限公司nano Voxel-4000计算机断层扫描系统。在测试过程中,X射线源电压设置为225 k V,分辨率为2μm;X射线探测器成像面积为244 mm×196 mm,成像范围为300 mm×450 mm(直径×高度)。X射线计算机断层扫描测试试验条件如表1所示。