《表1 X射线荧光光谱仪测量条件》

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《玻璃熔片X荧光法测定铁矿石中钒方法研究》

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扫描型X-荧光仪，型号：ZSXprimusⅡ，日本理学，端窗Rh靶；样品盒面罩孔径为φ30mm；V元素谱线及其测量条件优化列于表1。电加热高效熔样机，Pt95%-Au5%专用坩埚及模具。