《表2 重复测量结果：基于双结构光的微小圆柱端面缺陷检测》

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《基于双结构光的微小圆柱端面缺陷检测》

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为了验证高斯混合模型对微小圆柱元件缺陷检测的准确性和稳定性，随机选择100个微小圆柱进行测试，包含25个缺陷圆柱和75个正常圆柱，对单个圆柱重复测量5次．高斯混合模型对5次分类后的结果如表1所示．其中，部分缺陷圆柱的缺陷比例经过河南省计量院的精确计量，误差小于1%，计量缺陷圆柱的重复测量结果如表2所示．根据需求，缺陷比例小于10%的为完好圆柱，大于等于10%的为缺陷圆柱．则缺陷检出率R和算法总识别率V为R=R0/N0，V=V0/N，其中:R0为正确检出缺陷圆柱的数量；N0为缺陷圆柱的总数量；V0为正确检测圆柱的数量；N为检测圆柱的总数量．