《表2 不同间距设计的按压结果对比》

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《ADS液晶面板划痕Mura研究》

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我们选取条状电极末端设计为切角设计的面板，从面板a、c和面板e的滑动按压测试结果可以看到（表2）：从模拟a、c、e面板的电极末端的液晶分子可以看到，见图10，对于切角设计，其间距（Space）越大，则紊乱区域越大，即液晶分子的突变区域长度越大，越不利于液晶分子在末端的连续分布，故在受压力变形后，容易和电场的共同作用发生偏转，不能回到原有状态，被人眼所察觉，即形成了按压的痕迹。由此得出结论，条状电极的间距（Space）越大，越不利于Trace Mura风险设计。