《表3 不同面板在L255灰阶模拟最大突变方位角》

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《ADS液晶面板划痕Mura研究》

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对比5种面板液晶分子在电极末端位置突变的角度与Trace Mura的现象，由表3可知，模拟实验a～e面板的液晶分子在条状电极末端的方位角的最大突变角度，发现突变的偏转角度大于15°时，液晶面板有Trace Mura风险，且该角度越大，则Trace Mura越严重。