《表1 不同掺杂对HfO2和ZrO2等铪基氧化物中氧空位形成能调制效应》
对于铪基氧化物阻变器件,在铪基氧化物高K/金属栅技术中普遍采用的通过掺杂与界面工程方法改善、调制器件性能的技术路径仍然有效。在氧化铪阻变材料中,采用不同的掺杂可调制氧空位形成能,如表1所示[2]。
图表编号 | XD00125474700 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.12.01 |
作者 | 康晋锋 |
绘制单位 | 北京大学信息科学技术学院微纳电子学系 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
对于铪基氧化物阻变器件,在铪基氧化物高K/金属栅技术中普遍采用的通过掺杂与界面工程方法改善、调制器件性能的技术路径仍然有效。在氧化铪阻变材料中,采用不同的掺杂可调制氧空位形成能,如表1所示[2]。
图表编号 | XD00125474700 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.12.01 |
作者 | 康晋锋 |
绘制单位 | 北京大学信息科学技术学院微纳电子学系 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |