《表1 缺陷的C扫图像信息》
通过计算二值图像中的像素个数,可以提取缺陷的面积、周长和缺陷坐标等信息.以试件的左上角为坐标原点,表1列出了图3试件中不同深度的缺陷信息.实验所得数据与人工预埋的夹杂缺陷形状、位置等基本一致,说明C扫描图像在材料内部缺陷的检测中效果很好.
图表编号 | XD00123791900 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.12.28 |
作者 | 袁月、施丽莲 |
绘制单位 | 绍兴文理学院土木工程学院、绍兴文理学院机械与电气工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
通过计算二值图像中的像素个数,可以提取缺陷的面积、周长和缺陷坐标等信息.以试件的左上角为坐标原点,表1列出了图3试件中不同深度的缺陷信息.实验所得数据与人工预埋的夹杂缺陷形状、位置等基本一致,说明C扫描图像在材料内部缺陷的检测中效果很好.
图表编号 | XD00123791900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.12.28 |
作者 | 袁月、施丽莲 |
绘制单位 | 绍兴文理学院土木工程学院、绍兴文理学院机械与电气工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |