《表1 不同服务时间SRI的第6层的T2ong-mean值》

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《评估硅橡胶复合绝缘子老化的磁共振新方法》

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图7的3条线显示了3个SRI的等效横向弛豫时间变化的趋势。沿着每条线，数据点表示在每层中每个测量组的2个样本上获得的6个横向弛豫时间的平均值T2long-mean，测量深度的增加会产生更长的横向弛豫时间。随着SRI的使用时间的增加，横向弛豫时间在每个深度处逐渐减小。沿着深度方向，绝缘子服务时间越长，T2long-mean最初增长得越快。第一个达到平坦的是新的（0年）SRI，当测量深度达到0.75mm，所有这3种SRI倾向于具有几乎相同的T2long-mean。理想情况下，0年线应是水平的，但是测量结果表现出缓慢上升的趋势，这是因为虽然该绝缘子从未挂网运行，但已存储了大约8年，所以自然老化是不可避免的。为了清楚地说明具有不同服务时间的3个SRI的T2分布之间的差异，将第6层的T2分布绘制于图8中。根据式（1），计算出的3个SRI组的T2长度平均值见表1。