《表2 特征空间维度与识别率关系》

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《一种新型的半导体SMA缺陷识别方法》

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为了考察特征维度与识别精度的关系，找到最佳特征维度，实验先对图像列方向进行2DPCA特征维度改变与识别率关系，确定行方向最佳特征维度后，再对图像列方向上改变特征投影维度，考察模型的识别效果，实验结果如表2所示。