《表1 实验超参数：一种新型的半导体SMA缺陷识别方法》

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《一种新型的半导体SMA缺陷识别方法》

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本文算法主要分为4个步骤：建立数据集、构建网络模型、训练模型参数和测试数据。实验分别对训练集和测试集数据进行主成分提取，然后用训练集训练模型，将训练好的模型对测试集进行测试。经过多次试验调整参数，为提高收敛速度，最终确定模型所涉及到的超参数如表1所示。