《表2 阻挡层CMP对碟形坑和蚀坑的修正Tab.2 Corrections of dishing and erosion on the barrier CMP》
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《阻挡层抛光液中助溶剂和H_2O_2对铜残留缺陷的影响》
FA/O阻挡层抛光液中加入质量浓度1.5 g/L的助溶剂和体积分数为0.05%的H2O2,考察其对碟形坑和蚀坑深度的修正能力,结果见表2,表中db为抛光前深度,da为抛光后深度,Δd为深度变化量。
图表编号 | XD001101400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.11.03 |
作者 | 胡轶、张凯、何彦刚、刘玉岭 |
绘制单位 | 新疆师范大学化学化工学院、河北工业大学微电子研究所、河北工业大学微电子研究所、河北工业大学微电子研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |