《表3 集成测试方法分析对比图》
从上图可以看出虽然调用图花费时间最短,但是出现异常后,无法定位异常,如果把测试结果直接交给研发人员的话,就需要研发人员花费大量时间定位异常,延长整个软件的开发时间。采用类间继承关系集成测试方法,虽然可以直接定位异常,但是整个测试周期长,影响测试效率。因此在调用图法后采用类间集成测试法的话,能够很快定位异常,减少研发查找原因的时间,大大地节约了产品的研发时间。
图表编号 | XD00102888300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.10.01 |
作者 | 张冉、高雪莲、冯曦、冯文楠、胡毅、唐晓柯 |
绘制单位 | 北京智芯微电子科技有限公司国家电网公司重点实验室电力芯片设计分析实验室、北京智芯微电子科技有限公司北京市电力高可靠性集成电路设计工程技术研究中心、北京智芯微电子科技有限公司国家电网公司重点实验室电力芯片设计分析实验室、北京智芯微电子科技有限公司北京市电力高可靠性集成电路设计工程技术研究中心、北京智芯微电子科技有限公司国家电网公司重点实验室电力芯片设计分析实验室、北京智芯微电子科技有限公司北京市电力高可靠性集成电路设计工程技术研究中心、北京智芯微电子科技有限公司国家电网公司重点实验室电力芯片设计分析实验室、 |
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