《表3 VAD工艺制造的G.657.A2光纤的宏弯损耗性能指标》
将具有上述折射率剖面的G.657.A2预制棒芯棒采用OVD工艺进行外包层制作,再将所制得的光纤预制棒进行光纤拉制。实验累计拉丝80000 km以上,对其宏观弯曲损耗性能进行测试。测试数值与G.657.A2光纤宏弯损耗标准的比较如表3所示。可以看出,采用VAD工艺研制的G.657.A2光纤的宏弯损耗性能指标全部符合且优于标准要求。由此可见,采用本文的设计可以实现宏弯损耗性能优越的G.657.A2光纤的稳定量产。
图表编号 | XD00101148500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.10.15 |
作者 | 秦钰、沈一春、钱宜刚 |
绘制单位 | 中天科技精密材料有限公司、中天科技精密材料有限公司、中天科技精密材料有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |