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目录1

第一部分原理和电路1

第一章晶体管特性图示仪的原理1

一、图示仪的基本原理1

二、图示仪的基本方框图6

第二章阶梯波电压产生电路8

第一节 泵式阶梯波电压产生电路8

一、DD型泵式阶梯波电路8

二、DT型泵式阶梯波电路18

三、TT型泵式阶梯波电路21

第二节 数模转换式(D/A)阶梯波电路22

一、权电阻网络式的数模转换23

二、T型网络式的数模转换26

第三章JT-1型晶体管特性图示仪及其电路分析32

第一节 JT-1型图示仪的系统组成和技术性能32

第二节 基极阶梯波电路35

一、阻容移相器35

二、脉冲形成电路37

三、阶梯波电压产生电路39

四、阶梯波放大电路43

第三节 集电极扫描电源46

一、集电极扫描电源的工作原理46

二、容性电流的中和问题46

第四节 显示电路48

一、X轴和Y轴放大器49

二、测试转换开关和X轴输入的设计问题51

三、高频高压电源和示波管控制电路56

第五节 主电源供给电路58

第六节 JT-1型图示仪的调整59

一、电源等的调整59

二、Y轴作用的调整60

三、X轴作用的调整61

四、基极阶梯信号的调整62

五、集电极扫描信号的调整64

第四章 其他型式图示仪的电路介绍66

第一节JT 1型图示仪的缺点及其改进方法66

一、被测晶体管的功耗问题67

二、基极的脉冲阶梯波和间歇三角波72

三、容性电流的进一步讨论77

第二节 简易图示仪电路举例80

一、晶体管简易图示仪电路80

二、集成电路的简易图示仪86

第二部分使 用91

第五章 晶体管的测试91

第一节 JT-1型图示仪的使用91

一、JT-1面板上的各开关旋钮的作用91

二、JT-1型图示仪的操作方法98

三、JT-1型图示仪使用时注意事项100

第二节 晶体管正常工作的特性曲线及其测试102

一、晶体管的特性及其参数102

二、晶体管的测试方法109

三、常见的晶体管特性不良的现象124

一、晶体管反常工作的特性128

第三节 晶体管反常工作的特性曲线及其测试128

二、晶体管雪崩击穿特性的测试方法和应用举例133

三、晶体管双向工作特性的测试方法141

第六章场效应晶体管的测试144

第一节 场效应管的特性及其参数144

第二节 场效应管的测试151

一、场效应管的测试方法151

二、常见的场效应管特性不良的现象161

第七章二极管和电阻的测试164

第一节 二极管的测试164

一、二极管的特性及其参数164

二、二极管的测试方法166

一、稳压管的特性及其参数169

第二节 稳压管的测试169

二、稳压管的测试方法172

三、常见的稳压管特性不良的现象173

四、氖管的测试175

第三节 隧道二极管的测试176

一、隧道二极管的特性及其参数176

二、隧道二极管的测试方法179

第四节 电阻的测试180

第八章特种半导体管的测试182

第一节 单结晶体管的测试182

一、单结晶体管的特性及其参数…………………………(182 )二、单结晶体管的测试方法186

第二节 可控硅的测试190

一、可控硅的特性及其参数190

二、可控硅的测试方法196

一、光电耦合器的特性和应用举例201

第三节 光电耦合器的测试201

二、光电耦合器的测试方法206

第九章数字集成电路的测试210

第一节 集成电路概述210

第二节 TTL与非门电路的测试213

一、TTL与非门电路的特性及其参数213

二、TTL与非门电路的测试方法221

三、HTL与非门电路的特性与测试229

第三节 ECL集成门电路的测试233

一、ECL集成电路的特性及其参数233

二、ECL集成门电路的测试方法240

第四节 MOS集成门电路的测试246

一、MOS集成门电路的特性及其参数246

二、MOS集成门电路的测试方法250

第十章组合管和电路特性的测试257

第一节 组合管特性的测试257

一、晶体管达林顿型组合管的测试257

二、晶体管恒流保护特性的测试259

三、晶体管互补开关特性的测试260

四、隧道二极管串接特性的测试261

五、光电耦合器与晶体管组合的负阻电路的测试………(264 )第二节 电路特性的测试与研究266

一、射极跟随器和OCL电路特性的测试266

二、集成电压跟随器特性的测试272

三、晶体管施密特电路滞后特性的测试273

四、集成施密特电路特性的测试280

附录一JT-1型图示仪的电原理图和元件分布图284

附录二JT-3型图示仪的原理与使用287

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