《表面化学与多相催化》求取 ⇩

1．固态化学基础1

1.1．缺陷——点、线、面及电子缺陷1

1.2．平衡状态下的本征点缺陷数量6

1.3．离子活动及自我扩散8

1.4．离子电导率12

1.5．位错的物理化学性质及其影响14

1.6．能带理论24

1.7．导体、半导体、绝缘体36

1.8．半导体的导电37

2．表面结构50

2.1．前言50

2.2．表面的特殊性质51

2.3．表面——二维点阵58

2.4．二维结构——清洁表面及吸附了的表面62

2.5．一些有趣的表面结构71

2.6．表面相变74

3．表面热力学76

3.1．表面热力学函数76

3.2．单组分系统的表面功76

3.3．表面自由能Gs与温度的关系78

3.4．范德华（vanderWalls）和古根海摩（Guggenheim）79

3.5．多组分体系的表面张力——吉布斯吸附方程式（Gibbs AdsorptionIsotherm）80

3.6．偏析作用（Segregation）83

3.7．表面层——多层模型89

3.8．表面组成的经验估计、实验数据及理论的比较93

4．半导体化学吸附理论102

4.1.界限层理论（BoundaryLayerTheory）102

4.2．伏尔根斯坦（Wolkenstein）化学吸附电子理论122

4.3．半导体的导电性及吸附物种127

5．量子表面键合理论130

5.1．导言——表面位与表面态130

5.2．清洁表面态——自由或本征表面态132

5.3．吸附表面态——外来表面态149

5.4．表面键156

6．低能电子衍射方法176

6.1．导言176

6.2．低能电子衍射的装置178

6.3．基本衍射理论179

6.4．低能电子衍射的各种方法186

6.5．衍射图谱的其它特性225

7．电子能谱学——紫外光电子能谱学及X－光电子能谱学229

7.1．基本原理229

7.2．结合能232

7.3．“额外”峰的来源234

7.4．跃迁几率237

7.5．取样深度——非弹性平均自由程λe(E)239

7.6．UPS和XPS的特征241

7.7．实验方法243

7.8．定量分析248

7.9．UPS谱数据演释249

7.10．XPS谱数据演释254

7.11．UPS及XPS应用实例258

8．俄歇电子能谱学（AugerElectronSpectroscopy,AES）269

8.1．俄歇电子，俄歇电子能量269

8.2．俄歇实验方法与俄歇信号271

8.3．俄歇数据的演释274

8.4．俄歇能谱学在吸附及多相催化领域中的应用285

9．外延X射线吸收光谱精细结构（ExtendedX-rayAbsorptionFineStructure,EXAFS）306

9.1．EXAFS的基础306

9.2．EXAFS数据分析315

9.3．EXAFS实验318

9.4．EXAFS的应用320

参考书籍与文献333