《微机应用系统可靠性设计理论与实践》求取 ⇩

第1章可靠性技术基础1

1.1 可靠性基本概念1

1.2 几种常见的失效分布6

1.3可靠性组合模型9

1.3.1 可靠性框图9

1.3.2 串联系统的可靠性模型10

1.3.3 并联系统的可靠性模型10

1.3.4 混联系统的可靠性模型11

1.3.6 非工作贮备系统14

1.4 组合模型应用示例16

1.5 RAS技术的基本概念18

1.6 可修系统的马尔可夫模型19

1.7 可靠性预计23

1.8可靠性分配26

1.8.1 概述26

1.8.2 可靠性分配方法27

第2章避错技术及其应用30

2.1 避错与容错技术30

2.2 元器件质量指示及筛选31

2.3 元器件选择及应用36

2.4 元器件的降额设计47

2.5 元器件的容差与源移设计49

2.6 简化设计及瞬变过应力保护设计52

2.7 耐环境设计55

2.8 印制电路板的可靠性设计59

2.9结构可靠性设计63

2.9.1 系统体系结构63

2.9.2 整机机械结构的基本要求66

第3章微机应用系统抗干扰设计68

3.1电磁兼容性技术的基本概念68

3.1.1 电磁兼容性定义68

3.1.2 电场、磁场和电磁场69

3.1.3 噪声和干扰及其分类69

3.1.4 干扰和抗干扰三要素70

3.1.5 干扰传播途径及其危害71

3.2接地72

3.2.1 接地基本概念72

3.2.2 接地干扰产生的原因及危害73

3.2.3 系统接地74

3.2.4 保护接地76

3.2.5 屏蔽接地78

3.2.6 接地实例78

3.3常用抗干扰器件80

3.3.1 压敏电阻80

3.3.2 TVP器件82

3.3.3 滤波器83

3.4静电危害及其防护87

3.4.1 静电的产生88

3.4.2 静电的危害88

3.4.3 静电干扰的防护89

3.5雷电危害及其防护90

3.5.1 雷电灾害的新认识90

3.5.2 雷电的危害90

3.5.3 雷电灾害的防护92

3.6屏蔽92

3.6.1 屏蔽的目的和分类92

3.6.3 电磁屏蔽95

3.6.4 低频磁屏蔽95

3.7模拟量输入通道抗干扰技术96

3.7.1 串模干扰抑制96

3.7.2 共模干扰及其抑制法97

3.7.3 模—数转换器的使用注意事项99

3.8数字电路中的抗干扰技术99

3.8.1 数字电路中的反射及其抑制100

3.8.2 数字电路的串扰及其抑制101

3.8.3 连接允许长度和电路结构的关系102

3.9开关量输入输出通道的抗干扰措施103

3.9.1 开关量输入通道的抗干扰措施103

3.9.2 开关量输出通道的抗干扰措施104

3.10 印制线路板的抗干扰设计107

3.11微机应用系统的电源抗干扰技术108

3.11.1 电网噪声108

3.11.2 电源噪声的抑制109

第4章编码技术及数据传输的可靠性111

4.1数据传输基本知识111

4.1.1 数字信号的传输111

4.1.2 信道113

4.1.3 数据传输的主要故障及解决方法114

4.2差错控制技术115

4.2.1 差错控制的基本形式115

4.2.2 检错和纠错的基本原理117

4.2.3 常用检错码118

4.3 线性分组码121

4.4 海明校验码123

4.5 用单片机软件实现海明校验125

4.6 循环冗余校验码(CRC码)127

第5章故障测试诊断及易测性设计133

5.1故障、差错及失效133

5.1.1 故障、差错、失效的基本概念133

5.1.2 故障的特性133

5.2故障模型135

5.2.1 晶体管开关级故障模型135

5.2.2 门级故障模型136

5.2.3 功能模块级故障模型137

5.3 差错模型139

5.4 防卫故障的原理140

5.5逻辑可控性、可视性和易测性141

5.5.1 逻辑可控性和可观性141

5.5.2 易测性142

5.6改善逻辑电路易测性的基本方法143

5.6.1 改善逻辑可控性143

5.6.2 增设观察点145

5.6.3 同时改善可控性和可观性146

5.7印制电路板的易测性设计147

5.7.1 改善PCB的可控性和可观性147

5.7.2 设计上的注意事项148

5.8 故障诊断和内建自测试（BIT）技术151

5.9 可维修性设计151

5.10 CPU测试153

5.11 数据存储器测试157

5.12 程序存储器测试161

5.13 通道和接口的测试162

第6章容错技术及其应用164

6.1 容错技术的基本概念164

6.2电路级冗余技术165

6.2.1 二倍冗余电路165

6.2.2 四倍冗余电路166

6.3静态冗余技术167

6.3.1 三模冗余(TMR)167

6.3.2 表决技术168

6.4动态硬件冗余171

6.4.1 双机比较171

6.4.2 备用替换172

6.4.3 其它动态冗余技术172

6.5 单片机双机容错设计实例172

6.6 独立总线三冗余容错系统实例174

第7章软件可靠性技术179

7.1软件可靠性概念179

7.1.1 软件危机179

7.1.2 软件可靠性模型179

7.2程序测试技术180

7.2.1 软件故障特性180

7.2.2 程序测试和验证的不完备性181

7.3软件避错技术183

7.3.1 软件管理技术183

7.3.2 提高软件可靠性的一般方法183

7.3.3 层次化、结构化、模块化程序设计技术185

7.3.4 汇编语言程序设计的避错方法和技巧186

7.4软件容错技术187

7.4.1 容错软件的基本结构187

7.4.2 容错软件的常用技巧188

7.4.3 软件陷阱及其正确应用189

7.4.4 软件WTD设计190

7.5软件算法的容错设计191

7.5.1 逻辑运算的容错设计191

7.5.2 数值运算的容错设计192

7.6输入输出接口的软件容错设计193

7.6.1 输入接口的软件容错设计193

7.6.2 输出接口的容错设计194

7.6.3 人机接口的软件容错设计195

7.7程序运行监视器（WTD）及其应用197

7.7.1 WTD电路设计198

7.7.2 专用微处理器监控电路及其应用200

7.7.3 WTD配套程序设计技巧202

7.7.4 系统无扰动重恢复技术204

第8章总线技术及硬件模块化设计209

8.1总线基本知识209

8.1.1 总线的分类209

8.1.2 采用总线的优越性210

8.1.3 总线标准和微机应用系统常用总线210

8.2芯片间串行总线技术213

8.2.1 SPI串行总线213

8.2.2 MICROWIRE串行总线216

8.2.3 12C串行扩展总线216

8.3网络协议与现场总线技术223

8.3.1 网络协议223

8.3.2 现场总线225

8.4CAN总线测控局域网特点及报文格式228

8.4.1 CAN基本特点229

8.4.2 报文格式及错误检测229

8.5带CAN总线的新型单片机P8XC592231

8.5.1 P8XC592的功能及引脚信号231

8.5.2 CAN控制器的硬件结构及其与CPU的接口235

8.5.3 CAN控制段寄存器和报文缓存器238

8.5.4 P8XC592的中断系统250

8.5.5 CAN中断处理程序实例252

8.6 CAN总线的物理层设计254

8.7CAN总线控制器及扩展器件257

8.7.1 PCX82C200 CAN控制器主要特性257

8.7.2 单片CAN收发器PCA82C250259

8.8 LON神经元芯片网络261

第9章微机应用系统电源设计265

9.1 稳定电源及其主要质量指标265

9.2线性集成稳压电源267

9.2.1 三端固定输出集成稳压器267

9.2.2 三端可调输出集成稳压器270

9.2.3 低压差集成稳压器271

9.3开关稳压电源277

9.3.1 开关电源分类及基本电路结构形式277

9.4无工频变压器开关电源实例280

9.4.1 RCC开关稳压电源280

9.4.2 Topswitch系列开关集成稳压器282

9.4.3 PS系列AC-DC开关电源模块285

9.5低压直流变换式开关电源实例286

9.5.1 CW34063构成的低压开关稳压器287

9.5.2 CW4962/4960构成的低压开关稳压器288

9.5.3 MAX787/788/789低压开关电源稳压器289

9.5.4 YDS系列三端开关电压调整器290

9.6分布式电源、不间断电源和电源母线技术291

9.6.1 分布式电源291

9.6.2 不间断供电产装置292

9.6.3 电源母线技术293

9.7稳压电源的选择比较及装配注意事项295

9.7.1 稳压电源的选择比较295

9.7.2 线性稳压电源的装配注意事项295

9.7.3 开关稳压电源噪声抑制及装配注意事项296

9.8电池的选择和使用298

9.8.1 免维护密封铅酸蓄电池298

9.8.2 镍镉电池299

第10章微机应用系统的低功耗设计301

10.1 对低功耗系统的新认识301

10.2CMOS微处理器的功耗特性及其功耗控制原理301

10.2.1 CMOS微处理器的功耗特性301

10.2.2 Intel的CMOS单片机系列功耗控制原理302

10.2.3 M68HC05的功耗控制原理303

10.2.4 高集成度的80C186的功耗控制原理305

10.3存储器的低功耗设计305

10.3.1 低功耗存储器的选择305

10.3.2 维持工作方式的应用306

10.4CMOS电路的应用及接口技术307

10.4.1 CMOS电路的功耗特性307

10.4.2 CMOS电路的降耗措施308

10.4.3 CMOS电路的逻辑电平及接口设计308

10.5低功耗输入输出接口设计311

10.5.1 80C51系列单片机I/O端口特点311

10.5.2 一般I/O口的降耗设计312

10.5.3 串行接口的低功耗设计313

10.6低功耗系统的电源设计315

10.6.1 直流—直流变换器特点及选用315

10.6.2 MAXIM直流—直流变换芯片318

10.6.3 低功耗电源设计实例323

10.7 低功耗系统的软件设计324

10.8 低功耗系统设计实例325