《可靠系统的设计理论与实践 上》求取 ⇩

中译本序1

前言1

译者的话1

第一部分 可靠系统的设计理论7

第一章 基本概念7

1.1 可靠性的重要性7

1.2 数字系统的层次8

1.3 系统寿命期的各个阶段9

1.4 容错计算的特性及其定义10

1.4.1 可用度10

1.4.2 可靠度10

1.5.1 设计成熟性测试11

1.5 制造阶段11

1.5.2 进料检验12

1.5.3 工艺成熟性测试15

1.6 运行阶段16

1.7 拥有费用17

1.8 模型系18

1.9 可设计的参量19

参考文献20

第二章 故障及其表现21

2.1 引言21

2.2.1 物理缺陷23

2.2 故障的表现23

2.2.3 系统级的抽象29

2.2.2 逻辑级故障的类别29

2.3 故障的分布32

2.3.1 概率复习32

2.4 样本数据与数学分布的拟合35

2.4.1 极大似然估计法35

2.4.2 韦伯参数的极大似然估计36

2.4.3 线性回归分析36

2.4.4 置信区间37

2.4.5 符合良度检验37

2.5.1 寿命期测试和现场数据40

2.5 永久故障的分布：MIL-HDBK-217模型44

2.5.2 永久失效数据的分析：估计分布及其参数47

2.6 自动失效率计算52

2.7 瞬时错误和系统错误的分布53

2.7.1 数据收集53

2.7.2 图形化数据分析54

2.7.3 参数的置信区间61

2.7.4 符合检验61

2.6 小结61

参考文献63

习题63

第三章 可靠性和可用性技术 Steven A.Elkind64

3.1.1 环境变化68

3.1 避错技术68

3.1.2 质量控制71

3.1.3 元件集成度75

3.2 故障检测技术77

3.2.1 二模冗余78

3.2.2 检错码82

3.2.3 自校验、故障保险和失效-安全逻辑101

3.2.4 监视计时器和超时107

3.2.5 相容性检验和权力检验108

3.3.1 N模表决冗余110

3.3 屏蔽冗余110

3.3.2 纠错码118

3.3.3 屏蔽逻辑128

3.4 动态冗余135

3.4.1 可重组的二模冗余136

3.4.2 可重组的NMR140

3.4.3 后援备件147

3.4.4 缓慢降级151

3.4.5 重组153

3.4.6 恢复161

参考文献166

3.5 小结166

习题167

第四章 可维护性和测试技术174

4.1 生产阶段175

4.1.1 参数测试175

4.1.2 验收测试177

4.1.3 可测试性设计182

4.2 现场操作186

参考文献190

习题190

5.1.1 硬件评价191

5.1 评价标准概述191

第五章 评价标准 Stephen McConnel Daniel P.Siewiorek191

5.1.2 软件评价196

5.2 模型技术201

5.2.1 组合模型201

5.2.2 马尔柯夫模型235

5.2.3 系统可用性模型264

5.2.4 建立冗余影响性能的模型271

5.3 系统设计的综合分析275

5.3.1 设计实例：PDP-8/e276

5.3.2 实例分析281

5.4 小结285

习题286

参考文献286

第六章 财经考虑295

6.1 引言和基本概念295

6.1.1 定义295

6.1.2 维护费用296

6.1.3 用户拥有费用298

6.2 现场服务概观和费用模型300

6.2.1 维护费用模型300

6.2.2 寿命期费用 LCC(Life-Cycle Cost)模型303

6.2.3 具有综合数据成分的LCC模型307

习题311

参考文献311

6.3 结论311

附录A 差错控制的编码技术 D.T.Tang R.T.Chien313

A.1 基本定义313

A.1.1 冗余313

A.1.2 源码314

A.1.3 分组码314

A.1.4 二元码314

A.2 数字数据信道中的差错314

A.2.1 传送与存储314

A.2.2 源编码314

A.3.1 差错统计315

A.2.3 调制与解调315

A.3 差错源315

A.3.2 存储316

A.3.3 信道模型316

A.4 编码中的数学结构316

A.4.1 线性分离码317

A.4.2 多项式循环码318

A.5 对编码与译码的一般要求318

A.5.1 差错症候318

A.5.4 最小距离译码319

A.5.3 极大似然译码319

A.5.2 条件极大似然译码319

A.6 线性开关线路与移位寄存器320

A.6.1 使用延迟算子D的多项式320

A.7 编码器和译码器323

A.8 差错控制码的功能分类325

A.9 编码策略325

A.9.1 差错检测326

A.9.2 部分纠正327

A.9.3 抹除327

A.10 某些差错控制的应用328

A.10.1 数据通信328

A.9.5 顺序译码法328

A.9.4 自适应编码方案328

A.10.2 数据存储器329

A.10.3 辅助存储器329

A.10.4 数字多分支型差错控制330

A.11 结束语330

附录1 线性码的结构331

附录2 多项式码的结构332

附录3 求生成多项式的方法333

附录4 特殊的差错控制码337

附录5 循环冗余校验343

参考文献344

附录B 算术差错码：在数字系统设计中应用的代价和效果的研究Algirdas Avizienis345

B.1 码评价方法论345

B.1.1 问题的范围345

B.1.2 代价准则346

B.1.3 效果准则346

B.1.4 逻辑故障分类348

B.2 二进制算术处理器中的故障后果349

B.2.1 并行算术运算中的基本故障349

B.2.2 二进制处理器中的重复使用故障351

B.3 低代价以2为基数的基术码352

B.3.1 算术差错码的实现352

B.3.2 低代价校验算法353

B.3.3 故障效果：一次使用故障354

B.3.4 故障效果：确定性重复使用故障354

B.3.5 故障效果：非确定性重复使用故障355

B.3.6 剩余码中的重复使用故障356

B.4 多重算术差错码357

B.4.1 多重低代价码357

B.4.2 多重码的“混合代价”形式359

参考文献360

附录C 可测试逻辑设计理论和实践的最新进展 R.G.Bennetts R.V.Scott361

C.1 引言361

C.2.1 组合线路362

C.2 理论方面的进展362

C.2.2 时序线路370

C.2.3 复重阵列377

C.3 可测试逻辑设计的实践情况378

结论382

参考文献383

附录D MIL-HDBK-217B可靠性模型梗概384

参考文献387

附录E MIL-HDBK-217C可靠性模型梗概388

E.1 217C模型388

E.2 217C 1号公报模型389

参考文献392