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第十一章 中子探测技术1

第一节 中子探测的基本原理1

一、核反应法2

二、核反冲法3

三、核裂变法4

四、活化法5

第二节 常用的中子探测器6

一、气体探测器6

二、闪烁探测器10

三、半导体探测器13

四、其他中子探测器15

第三节 中子能谱的测量16

一、氢反冲法16

二、6Li和3He谱仪25

三、飞行时间法26

四、晶体衍射法34

第四节 中子通量及中子源强度的测量36

一、概述36

二、氢反冲法测量快中子通量39

三、中子活化法测量中子通量42

四、锰浴法测量中子源强度46

五、用伴随粒子法测量快中子通量48

第十二章 低水平放射性测量50

第一节 测量系统的优质因子及探测极限50

一、探测装置的优质因子51

二、与探测灵敏度有关的几个概念52

第二节 本底来源及降低本底的措施56

一、本底的来源56

二、降低本底的措施57

一、低水平α计数63

第三节 几种低水平放射性测量装置63

二、低水平β计数64

三、低水平γ放射性的测量68

第十三章 核反应截面测量72

第一节 带电粒子反应截面测量72

一、物理原理72

二、微分截面和积分截面测量75

三、共振反应截面测量78

第二节 靶室和制靶技术82

一、靶室82

二、制靶技术85

一、中子全截面测量90

第三节 快中子反应截面测量90

二、中子散射截面测量96

三、中子俘获截面测量101

四、中子裂变截面测量103

第十四章 粒子鉴别技术105

第一节 脉冲形状甄别方法105

一、闪烁探测器中的脉冲形状甄别106

二、半导体探测器中的脉冲形状甄别113

三、正比计数器中的脉冲形状甄别120

一、工作原理121

第二节 飞行时间方法121

二、装置描述123

三、定时探测器126

第三节 探测器望远镜方法128

一、工作原理128

二、探测器132

三、鉴别能力134

四、多重探测器望远镜系统136

五、探测器望远镜与飞行时间方法的组合138

第一节 引言142

第二节 长核寿命的测量方法142

第十五章 核寿命的测量142

一、直接测量法143

二、比放射性法145

三、测定子核含量法146

第三节 短核寿命的测量方法147

一、直接测量的方法148

二、延迟符合和微波调制方法153

三、核反冲法157

四、确定能级宽度的方法165

五、非弹性散射方法173

六、阻塞效应175

一、中子活化分析原理180

第十六章 核辐射分析技术在痕量元素分析中的应用180

第一节 中子活化分析180

二、中子活化分析中的干扰反应182

三、中子活化分析设备和辐照条件选择183

四、测量和数据分析183

五、中子活化分析应用实例184

第二节 带电粒子核反应分析189

一、带电粒子活化分析法189

二、瞬发辐射分析法193

第三节 X荧光分析199

一、基本原理199

二、X荧光分析的实验装置和方法204

三、样品分析207

第四节 离子背散射技术211

一、基本原理211

二、实验装置和条件选择215

三、背散射技术的应用实例216

第五节 质谱分析技术218

一、质谱分析的基本原理219

二、离子源和离子收集器221

三、分辨本领和灵敏度222

一、辐射源的选用224

二、放射源的制备224

第一节 概述224

第十七章 常用辐射源224

三、放射源的包装和安全检验225

四、放射源产品等级226

第二节 α和重带电粒子源226

一、同位素α放射源226

二、加速器228

第三节 β辐射源230

一、概述230

三、β＋放射源231

二、β-放射源231

四、内转换电子源232

五、电子加速器233

第四节 γ和X射线源234

一、概述234

二、低能光子源235

三、常用γ参考源238

四、高能γ射线源239

五、穆斯堡尔源240

六、γ辐照源240

一、同位素中子源241

第五节 常用中子源241

二、加速器中子源244

三、反应堆中子源247

第十八章 测量误差和数据处理250

第一节 等精度观测下偶然误差的估算250

一、观测值和偶然误差的正态分布250

二、算术平均值及其分布251

三、方差的估值252

四、置信度和置信区间255

五、偶然误差和测量结果的表示方法257

六、估算均方根差的最大误差法和极差法259

一、权的概念和加权算术平均值262

第二节 不等精度观测误差的处理262

二、加权平均值的均方根差264

三、单位权方差的估算265

四、分组数据的处理268

第三节 系统误差273

一、系统误差对测量结果的影响273

二、系统误差的表示和确定274

三、系统误差的发现和检验275

四、系统误差的限制和消除279

一、二维随机变量281

第四节 多维数据组和间接测量的误差处理281

二、间接测量中的误差传递283

三、误差分配和误差分析286

第五节 用最小二乘法作参数估计289

一、最小二乘法原理289

二、线性参数的最小二乘估计290

三、最小二乘估计的精度计算294

四、不等精度观测下线性参数的最小二乘估计297

五、例题299

六、非线性参数的最小二乘估计301

一、用最小二乘法按多项式作曲线拟合302

第六节 曲线拟合法302

二、拟合曲线的置信区间304

三、多项式拟合阶数的选取305

四、正交多项式族在拟合观测数据时的应用307

附录1 几种常用分布的基本性质312

附录2 估值的评选标准314

附录3 标准偏差s的均方根差314

附录4 最小二乘残差平方和R的统计性质315

附录1 常用物理常数数值表317

附录2 正态分布概率积分表317

附录317

附录3 x2分布概率积分表318

附录4 t分布概率积分表319

附录5 F分布概率积分表320

附录6 放射性衰变计算表322

附录7 常用核素表323

附录8 按γ能量排列的常用参考源表326

附录9 常用衰变纲图（简化）328

附录10 平面源所张平均立体角的计算329

附录11 各元素的KX射线能量、相对强度和荧光产额336

附录12 几种探测介质和窗材料对低能光子的质量吸收系数340